IMAGERIE AFM
Grandeur mesurée |
Moyen |
échelle et sensibilité |
Interrelation |
Exemple |
Préparation |
Déplacement de la pointe détection des forces
inter-atomiques (capillaires, électrostatiques, Van der waals,
frictions…) |
* Pointe placée à une
distance d (qq nm) de la surface de l'échantillon. * Pointe déplacée par
rapport à l'échantillon dans les trois dimensions grâce à un système de
transducteurs piézoélectriques. * Position de la sonde
mesurée par l'intermédiaire d'un laser focalisé à l'extrémité du levier. * Un photodétecteur
collecte la réflexion de ce signal laser è permet de détecter
les variations locales des forces. attractions
de Van der Waals, répulsion de contact, forces
capillaires, interactions coulombiennes, magnétiques etc. |
Moléculaire Nanomètre - profondeur d'analyse inférieure
au nanomètre : 0,2 à 0,3 nm -
taille de la zone analysée: de l’ordre de 0,01 µm2
; - tous
les éléments sont détectables forces :
Polarisation KEESOM DEBYE |
Rugosimètre, microscopie optique, à transmission électronique |
Voir
ci-dessous |
Pas de
préparation particulière (standart) - Travail sous différentes atmosphères : air,
ultravide, eau taille
d’échantillon 100 * 100 micromètre |
Remarques :
- analyse « non
destructive »;
- possibilité d'analyser des échantillons
isolants
RUGOSIMETRE
Grandeur mesurée |
Moyen |
échelle et sensibilité |
Interrelation |
Exemple |
Préparation |
Rugosité arithmétique moyenne : Ra =
valeur moyenne de | y | sur toute la longueur d'analyse. Remarque
: la valeur moyenne de y est nulle. L'équation de la ligne moyenne est y = 0.
Rugosité quadratique moyenne : Rq
= racine carrée de la valeur moyenne de y² sur toute la longueur
d'analyse. Pic maximal : Rp
= ymax Creux maximal : Rc
= | ymin |
Rugosité totale : Rt
= Rp + Rc
|
un rugosimètre (ou profilomètre) est équipé d'un palpeur se déplaçant sur la surface. Analyse numérique du mouvement vertical de la pointe du
palpeur è
détermination des rugosités (Ra, Rp...)
|
|
AFM,
microscopie optique, à transmission électronique, rugosimètre
sans contact |
Voir
ci-dessous |
Pas de
préparation particulière (standart) - Travail sous différentes atmosphères : air,
ultravide, eau surface
de mesure plate ou convexe gamme
de : Rz = 0.2 à 60 micromètres Ra = 0.05
à 15 micromètres (suivant
le matériel) |